全自动探针台
UF200
全自动探针台 UF200 TSK
- 技术参数:
- 1.测试晶圆 5~8 英寸;2.误差 -2~2um;3.OTS 光学自动对准;4.可编程自动测试;
- 功能特色:
- 该设备用于自动集成电路测试,5-8英寸晶圆测试,采用 OTS 光学自动对准,提供优异的移动精度,操作方便灵活,提供 inklessmap、multisite 测试,150度高温测试等。设备配合 HP82000 集成电路测试系统,进行器件的中测;
- 样品要求:
- 应用领域:
- 集成电路;电子器件;
- 收费标准:
- 价格 面议