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纳米级X光断层扫描重构设备(Nano-CT) Xradia NanoXCT-200

技术参数：
功能特色：
配置及技术指标:X-射线的能级为8.03keV,大视野模式下，样品的测量范围为≤60um, 测量结果的空间分辨率为150nm,高分辨模式下，样品的测量范围≤15um,测试结果的空间分辨率为50nm
样品要求：
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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