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扫描电迁移粒径谱仪(SMPS+C)
5400
扫描电迁移粒径谱仪(SMPS+C) 5400
技术参数:
功能特色:
配置: 两种不同的DMA可以分别测定 5~350nm及10~1100nm粒径范围; CPC最高浓度为107/cm3
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格 面议
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