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微纳三坐标测量机 （micro & nano CMM） F25

技术参数：
功能特色：
基本特性: 光学和触针多测头设计 测量范围：130mm×130mm×100mm 最小测头直径：100µm 接触探测力：0.5mN 示值误差：(0.25+L*/666) µm 探测误差：0.3µm 分辨力：7.5nm
样品要求：
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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