未收藏
光学椭偏仪
M-2000DI
光学椭偏仪 M-2000DI J A Woollam
技术参数:
功能特色:
样品要求:
应用领域:
半导体微纳加工
收费标准:
价格 面议
为您推荐
奥林巴斯测量显微镜
断口观察、金相样品观察、EDS分析、EBSD分析
Quanta650 FEG
半导体功率器件静态测试系统
Tesec-3620-TT
万能测长仪(JD25-C)
免费咨询
我要使用