半导体参数仪
Agilent B1500
半导体参数仪 Agilent B1500 美国 Agilent
- 技术参数：
- 功能特色：
- 优异的 IV 测量性能：0.1 fA / 0.5 µV 测量分辨率- 测量特性包括单通道和多通道扫描、时间采样、列表扫描、准静态 CV（使用 SMU）、直接控制和针对 HV-SPGU 的任意线性波形生成（ALWG）GUI。可选的集成电容模块支持高达 5 MHz 的 CV 测量基于定位器的可选 CV-IV 开关解决方案提供 0.5 µV 的电压测量分辨率和 10 fA、1 fA 或 0.1 fA 的电流测量分辨率能力使用内置半自动晶圆探头驱动程序可轻松自动完成测试；在快速测试模式下，用户无需编程即可排列测试顺序可选的高电压半导体脉冲发生器单元（HV-SPGU）具有 10 ns 的可编程脉冲宽度和 +/- 40 V（80 V 峰峰值）输出可选的波形发生器/快速测量单元（WGFMU）提供 ALWG 和快速电流或电压测量能力10 ns 脉冲 IV 解决方案，用于表征高 k 栅极电介质和 SOI（绝缘硅）晶体管典型测试模式可提供 4155/4156 界面的外观、风格和术语，同时通过充分利用 Microsoft ® Windows ® GUI 特性可加强用户交互
- 样品要求：
- 应用领域：
- 半导体微纳加工
- 收费标准：
- 价格 面议
