未收藏
PL(光致发光谱)
SP-2500i
PL(光致发光谱) SP-2500i 美国PI公司
技术参数:
分辨率0.1nm
功能特色:
可测量200~800 nm发光材料
样品要求:
应用领域:
半导体材料
收费标准:
价格 面议
为您推荐
元素分析:X射线荧光光谱仪:XRF
XRF
LPCVD设备
LP4612-2F
同步热分析仪STA
TGA/DSC3/SF1100
透射电镜
JEM-2100
免费咨询
我要使用