场发射枪透射电子显微镜 JEM-2100F 日本电子
- 技术参数：
- 加速电压：80,120,160,180,200KV;样品倾斜角度：X方向正负25度，Y方向正负25度；点分辨率：0.19nm;线分辨率：0.14nm；束斑尺寸：小于0.5nm；STEM分辨率：0.20nm；EDS的接受角度：0.13sr
- 功能特色：
- 主要用于分析金属、半导体、化合物、超导体、陶瓷和矿物等材料的晶体结构、组织、形貌等，不仅可以分析周期性的晶体结构，也可以观察准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷以及晶界相界、畴界、表面等。
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
