未收藏
美国Gen II MBE外延设备
Gen II MBE
美国Gen II MBE外延设备 Gen II MBE 美国Gen
技术参数:
功能特色:
1×2”或1×3”衬底,主要用于GaAs基、InP基微结构材料的外延生长研究
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
元素分析:XRF,RoHS六项-定量分析
XRF X射线荧光光谱
透射电镜:球差透射电镜(米格)
ARM 200
冷场发射电镜
JSM-6701F
光致发光:室温时间分辨光致发光TRPL
光致发光光谱仪PL
免费咨询
我要使用