扫描进场光学显微镜
- 技术参数：
- 激光器的波长450nm、532nm、633nm、785nm；光电倍增管的波长响应范围200-800nm；近场光学成像分辨率50-100nm（取决于探针孔径）；正置部分具有高分辨的扫描探针显微镜功能，可以进行表面成像(AFM)、相位成像模式以及静电力（EFM）、扫描开尔文（SKM）、扩展电阻成像（SSRM)、扫描电容成像（SCM）、力曲线和表面刻蚀等工作模式；AFM的分辨率：纵向小于等于0.1nm
- 功能特色：
- 扫描近场光学显微镜主要应用于纳米光子学材料和器件的光学特性研究。正置部分可以作为高分辨率的原子力显微镜，具有力学、电学等测试功能，可以对OLED灯光电材料和器件的电学特性进行研究。该AFM还有压电响应力扫描模式（PFM）、磁力扫描模式（MFM）、液体中样品扫描等功能。
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
