场发射扫描电子显微镜 Nova Nano SEM 450 美国·FEI
- 技术参数：
- 1、 高真空模式分辨率：1nm ( 15KV)；1.6 nm (1KV)； 2、 加速电压 50V - 30kV连续可调； 3、 放大倍数：40倍-80万倍； 4、 倾斜角度：-10°-70°； 5、 样品台移动范围：X=Y=110mm，Z=50mm。 6、 真空度：样品室真空度≤6x10-4Pa，电子枪真空度≤5x10-7Pa。
- 功能特色：
- 1.场发射SEM（带超稳定且高电schottky电子枪） 2.射束着陆能量低于50V 3.全球唯一真正的高分辨率低真空FESEM:1.8nm@30V，30Pa 4.最高200nA,适于高或低真空分析
- 样品要求：
- 应用领域：
- 纳米材料、塑胶电子、玻璃基板、有机材料、金刚石薄膜等
- 收费标准：
- 价格 面议
