未收藏

透射电镜 JEM-2010 日本电子

技术参数：
功能特色：
对样品进行高分辨电子显微学研究。
样品要求：
应用领域：
形貌分析、组织结构、TEM像
收费标准：
价格   面议

为您推荐

免费咨询
我要使用