钨灯丝扫描电子显微镜
JSM-840
钨灯丝扫描电子显微镜
JSM-840 日本日立
- 技术参数：
- 扫描电镜工作电压200V~30KV；分辨率3.5nm；5轴马达样品台，全计算机控制；样品台移动范围：X：100mm；Y：125mm；Z：35mm，倾转对中；二次电子像，背散射电子像
能谱仪（KevexSuperDry）电制冷超薄窗口探头；分辨率139eV（MnK2）；可分析元素范围B~U；
背散射取向分析系统EBSD（丹麦HKL Channel5），空间分辨率0.1m；测定速度400个取向/秒。
- 功能特色：
- 对金属材料，复合材料，矿物材料，陶瓷，生物等材料进行表面形貌，结构，缺陷，厚度，成分分析。承担校内校外实验 、实验课程、课题研究、各种失效分析对金属材料，复合材料，矿物材料，陶瓷，生物等材料进行表面形貌，结构，缺陷，厚度，成分分析。承担校内校外实验 、实验课程、课题研究、各种失效分析。
- 样品要求：
- 1.样品需保证无磁性，无辐射，对电镜没有污染及损伤。粉末、块体材料。块体样品横向尺寸小于40mm，高度低于7mm。
- 应用领域：
- 生物，医学，动物，材料，陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品
- 收费标准：
- 价格 面议
