未收藏
8寸半自动测试探针台
Teala
8寸半自动测试探针台 Teala 美国Teala
技术参数:
8 寸、6 寸兼容;测试平台温度范围:-60℃-200℃;磁性探针座:4 个
功能特色:
该设备用于与半导体功率器件静态测试系统、图示仪结合使用,测试圆片的静态参数;
样品要求:
应用领域:
集成电路;电子器件;
收费标准:
价格 面议
为您推荐
掩模版:光学玻璃版
激光直写加工
高密度等离子体刻蚀系统
SI 500
光致发光:低温、变温PL
光致发光光谱仪PL
动态参数测试系统
Tesec-3430SW
免费咨询
我要使用