离子减薄仪 2007-1364 沈阳华业真空技术应用研究所
- 技术参数：
- 1、 系统极限真空度：优于5×10-4Pa； 2、 轰击电压：0~10Kv连续可调； 3、 离子轰击样品表面夹角：0º~20； 4、 样品台冷却后温度：-120ºC。
- 功能特色：
- 1、主要用于制备透射电子显微镜的薄膜样品； 2、可用于金属、非金属、半导体、陶瓷、岩石等固体材料的显微镜透射样品制备； 3、低温和常温下的离子减薄。
- 样品要求：
- 样品尺寸：长24mm（2D方向）、宽14mm、厚度小于5mm
- 应用领域：
- 可用于金属、非金属、半导体、陶瓷、岩石等固体材料的显微镜透射样品制备；
- 收费标准：
- 价格 面议
