光谱椭偏仪
GES5E
光谱椭偏仪 GES5E 法国Semilab
- 技术参数：
- 0~360° 完整角度范围 R1 采用两颗精密的 Suruga 滑台，实现完整的 0~360° 光谱测试；匹配智能算法，快速实现包括 透射 / 反射 / 散射 / 辐射 在内的 7 种光谱测量模式； 2 最宽 250~2500nm 谱段 R1 内置 氘气 / 卤素 光源，结合 Polka 分束镜，并选取消除色差的 Fluorite 萤石晶体透镜，提供 250~2500nm 超宽波段光谱测量； 3 精细的 5 维调节 为适应 样品的多样性，R1 采用了 x+y / α+β+θ 的 5 维调节台，精细地对样品进行方向调整； 4 外接 Laser 光源 由于新增的外部激光接口，R1 可拓展应用于 角分辨荧光光谱 测试领域，充分发挥实验室中更为强大的光源的优势。
- 功能特色：
- 测量各类（包括电介质、有机物、半导体、金属等）薄膜（包括透明基底上的透明薄膜）的膜厚及介电常数（n，k）、组分比等；对材料的各向异性、多层膜、膜层致密性、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构的材料具有光学性能的分析能力，可以测量薄膜的反射率、透射率、各向异性、双折射、散射、偏振、Muller矩阵等
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
