超高真空扫描探针显微镜 UHV AFM/STM Omicron NanoTechnology
- 技术参数：
- UHV SPM 是德国0micron Nano Technology 公司制造的超高真空扫描探针显微镜。空间分辨能力XY方向0.1～0.2nm，Z方向0.01nm；大尺寸扫描范围XY方向100µm及以上，Z方向10µm。具有STM成像功能、AFM成像功能（包括非接触AFM和间歇接触AFM），主要用于样品原子级形貌的表征。
- 功能特色：
- 检测内容包括：样品表面微观形貌观察，微区、亚微区成分定性和定量及元素分布分析等。
- 样品要求：
- 对样品无特殊要求，不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制。主要用于样品原子级形貌的表征，可实时、实空间、原位成像。
- 应用领域：
- 纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域。
- 收费标准：
- 价格 面议
