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键合拉力与芯片剪切力测试仪 Royce 650 Royce

技术参数：
测量电子元器件内部的焊接键合力和芯片粘附强度。 拉力（可做破坏性或非破坏性试验）： 0～100g，分辨率0.1g 剪切力：0～20kg，分辨率0.02kg
功能特色：
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