未收藏
半导体分立器件测试系统
BC3193
半导体分立器件测试系统 BC3193 励芯泰思特
技术参数:
电压精度:1nV
功能特色:
静态测试
样品要求:
半导体分立器件
应用领域:
半导体分立器件
收费标准:
面议
为您推荐
室温、低温冲击
JBN-300
荧光光谱仪
日立F-7000
高低温实验箱
VTM7004
SEM/电子束刻蚀系统
Zeiss Supra55+Raith
免费咨询
我要使用