未收藏
理学Ultima IV组合式多功能X射线衍射仪
Ultima IV
理学Ultima IV组合式多功能X射线衍射仪 Ultima IV 日本理学
技术参数:
功能特色:
用于测试多晶样品在常温或高温下的衍射图。通过对图谱的分析可以得到样品的物相组成、含量、晶粒大小、点阵常数及晶体结构的信息及其随温度的变化。进而可以在原子水平上理解材料的性能及温度对性能的影响
样品要求:
应用领域:
应用于化学、化工、物理、材料、制药等与晶体及其结构有关的领域。
收费标准:
价格 面议
为您推荐
全自动探针台
UF200
X射线能谱仪
X-MAX50
压汞仪
Quantachrome PoreMaster GT60
元素分析:ICP-MS(米格)
电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS
免费咨询
我要使用