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透发射偏光显微镜 XPV-770E

技术参数：
放大倍率：40~630x；透、反射观察；偏光观察；图像分析
功能特色：
样品要求：

块状试样/薄片试样，表面平整光滑，研磨、抛光

应用领域：
材料成分分析、矿物组成分析、偏光观察、图像分析
收费标准：
价格   面议

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