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扫描电子显微镜SEM电镜 fei 北软检测芯片测试实验室

技术参数：
可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像
功能特色：
1.材料表面形貌分析，微区形貌观察 2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 3.薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 4.纳米尺寸量测及标示 5.微区成分定性及定量分析
样品要求：
样品情况，尺寸，导电性
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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