FIB-SEM双束扫描电镜 Helios Nanolab600 赛默飞
- 技术参数：
- （离子光学系统）分辨率：5.0nm@30kV （离子光学系统）分辨率：1.0nm@15kV （离子光学系统）发射源：镓液态金属离子源 (电子光学系统）发射源：肖特基场发射源
- 功能特色：
- 样品要求：
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样品表面必须导电或可做导电处理（喷金）;样品尺寸及重量：长*宽<20╳20mm，高<10mm，重量<200g
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
样品表面必须导电或可做导电处理（喷金）;样品尺寸及重量：长*宽<20╳20mm，高<10mm，重量<200g
