聚光镜球差校正透射电镜
Titan Cubed Themis G2 300
聚光镜球差校正透射电镜 Titan Cubed Themis G2 300 美国FEI公司
- 技术参数：
- 1. 具备聚光镜球差校正器。2、EELS能量分辨率：优于0.35 eV (300 kV)。3、透射电子显微（TEM）模式的点分辨率：优于0.22 nm (300 kV)。4、HAADF分辨率：300 kV时0.06 nm，60 kV时优于0.136 nm。5、具备Super X能谱仪系统。 6、极靴间距5.4 mm。 7、具备Enfinium ER Model 977系统一套，拥有Dual EELS功能、EDS/EELS同时高速采谱功能。 8、具备分割式STEM探头。
- 功能特色：
- 1. TEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析；2.能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排；3. 可对无机材料进行形貌和成分的三维重构；4. 可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析；5. 可表征无机材料中的原子间电场分布；6.可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。
- 样品要求：
- 1.3mm直径铜环承载样品，薄区在50~100 nm以内为佳；2. 磁性要求要特殊指明，严禁磁性样品；3. 制样方法一般选择FIB切样或者离子减
薄样品，若为金属的化多选择电解双喷制备样品；
- 应用领域：
- 材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域
- 收费标准：
- 价格 面议
