FIB聚焦离子束 FEI,Helios G4 CX 赛默飞

技术参数:
电子束核心指标:分辨率1.1最佳工作距离分辨率:1.0nm @ 1kV1.2束交叉点分辨率:0.6nm @ 15kV; 2.5nm@1kV
功能特色:
.集成电路线路修改;2. 透射样品切割,包括硅基、纳米颗粒、陶瓷颗粒等
样品要求:
应用领域:
收费标准:
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