未收藏
半导体参数测试系统
4200A-SCS
半导体参数测试系统 4200A-SCS 泰克
技术参数:
可以测试场效应晶体管,忆阻器等各种三端和两端电子器件
功能特色:
样品要求:
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
元素分析仪
EA3000
Leica EM UC7超薄切片机
Leica EM UC7
深紫外光致发光光谱(米格)
深紫外光致发光光谱
物理吸附仪
Quantachrome Autosorb-1-MP
免费咨询
我要使用