高温动态老化系统
BTI-B3000AT;BTI-B3000S
高温动态老化系统 BTI-B3000AT;BTI-B3000S 杭州中安电子有限公司
- 技术参数:
- 四个独立的老化区域,1路数字信号图形发生系统,4路模拟信号发生系统,温度范围0℃~200℃,老化专用电源Vcc=18V/10A,Vmux=18V/10A,
Vclk=18V/5A,Vee=18V/10A
- 功能特色:
- 该设备可对各种封装形式的集成电路进行高温动态(静态)老炼试验,为了筛选或剔除那些勉强合格的器件,主要用在筛选试验和质量一致性检验的 C 组检验。
- 样品要求:
- 应用领域:
- 集成电路;电子器件;
- 收费标准:
- 价格 面议