未收藏
高分辨透射电镜:形貌分析、能谱(米格)
Tecnai G2 F20
高分辨透射电镜:形貌分析、能谱(米格) Tecnai G2 F20 FEI有限公司
技术参数:
场发射透射电子显微镜
功能特色:
样品要求:
1.3mm直径的铜环、铜网、微栅样品;2.无磁性样品;3.FIB切割样品;
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
环境场发射扫描电镜
FWI Quanta FEG 250
高温动态老化系统
BTI-B3000AT;BTI-B3000S
电子束蒸发
EB500
软磁材料直流自动测量装置
FE-2100SD
免费咨询
我要使用