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高分辨透射电镜：形貌分析、能谱(米格) JEOL 2010 日本电子

技术参数：
场发射透射电子显微镜
功能特色：
样品要求：
1.3mm直径的铜环、铜网、微栅样品；2.无磁性样品；3.FIB切割样品；
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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