未收藏

透射电镜：磁性样品形貌+能谱(米格) Tecnai G2 F20 FEI

技术参数：
场发射透射电子显微镜
功能特色：
样品要求：
直径3mm铜环样或微栅样品，适用纳米材料、粉体、半导体等
应用领域：
收费标准：
价格   面议

为您推荐

免费咨询
我要使用