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X射线荧光测试系统 CMI900 OXFORD

技术参数：
分辨率 1uin；光谱处理器：4096 通道；
功能特色：
该设备用于测试器件的镀层厚度能够同时测试 4 层镀层厚度（底材上）
样品要求：
应用领域：
集成电路；电子器件；
收费标准：
价格   面议

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