未收藏
XPS分析:深度剖析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:深度剖析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
元素分析:ICP-MS(米格)
电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS
CS-400A超声扫描显微镜
离子减薄仪
Gatan 691
粉末XRD分析:XRD
XRD
免费咨询
我要使用