未收藏
XPS分析:深度剖析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:深度剖析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
Agilent气相色谱-质谱联用仪
AGILENT 7890A/5975C
划片机
A-WD-10B
高密度等离子体刻蚀系统
SI 500
UPS分析:常规分析,紫外光电子能谱,包含分析
X射线光电子能谱仪
免费咨询
我要使用