未收藏
XPS分析:深度剖析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:深度剖析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
为您推荐
直写曝光机
DWL2000
激光椭偏仪
SE500
高真空电阻蒸发镀膜机
ZHDS-400
等离子去胶机
Plasma 300
免费咨询
我要使用