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XPS分析:深度剖析,包含分析
X射线光电子能谱仪
XPS分析:深度剖析,包含分析 X射线光电子能谱仪 ESCALAB 250Xi
技术参数:
X射线光电子能谱仪
功能特色:
样品要求:
空间分辨率可达3um,穿透深度一般在10nm到30nm以内。
应用领域:
收费标准:
价格 面议
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