未收藏
台式扫描电镜
JCM6000
台式扫描电镜 JCM6000
技术参数:
功能特色:
用于器件表面形貌分析;
样品要求:
应用领域:
集成电路失效分析;
收费标准:
价格 面议
为您推荐
磁学性质测量系统
MPMS-XL-7
半导体功率器件热阻测试系统
Tesec-9424 KT
XPS分析:常规分析
X射线光电子能谱仪
金丝压焊机
K&S4522
免费咨询
我要使用