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半导体参数测试系统
Keithley
半导体参数测试系统 Keithley 4200-SCS/F
技术参数:
配置3 个中功率源测量单元(SMU), 电流最大100mA,电压最大200V,增 配远端前置放大器,电流测量分辨率 可达0.1fA。
功能特色:
电学特性测量,适用于各种纳米材料器件的电导和电容特性表征。
样品要求:
应用领域:
电学特性测量,适用于各种纳米材料器件的电导和电容特性表征。
收费标准:
价格 面议
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