台阶仪 DektakXT 德国布鲁克
- 技术参数：
- 可 快速垂直扫描的旋转盘共焦技术。使用高数值孔径 (0.95) 以及高倍数的 (150X) 3D全视野3D镜头，用以表征坡度分析 (最大斜率<干涉测量>: 72o vs 44o) 。具有光学形貌上最高的横向分辨率，附有5百万自动分辨率的CCD相机， 空间下样可调至0.05um，是表面特征以及形貌的测量的最佳配置。
- 功能特色：
- 是集合了共焦光学形貌仪，WLI白光干涉形貌仪，原子力显微镜，接触和非接触式双模式表面形貌检测
- 样品要求：
- 应用领域：
- 收费标准：
- 价格 面议
