场发射扫描电镜及能谱仪
JSM-7001F及X-Max
场发射扫描电镜及能谱仪 JSM-7001F及X-Max 日本电子株式会社和牛津仪器纳米分析有限公司
- 技术参数：
- 分辨率：2 nm(30 kV)/3.0 nm(1kV)；加速电压：0.5kV-30kV；放大倍数：10-500K；浸没式热场发射电子枪，束流强度最大200nA，具有大束流高分辨特点,其中在5nA、WD10mm\15kV时分辨率3.0nm；自动光阑角控制器，无需调整光阑；全自动控制聚焦、合轴、消像散、控制扫描速度；无漏磁物镜设计，便于磁性样品观测；适于配合多种分析性探头；能谱探头面积高达50mm2的有效活区；输入计数率>500,000cps，采集计数率>200,000cps；Mn K典型分辨率<125ev，C Kα<48ev；高计数下的谱峰校正；灵敏性高，有效分析轻元素，纳米尺度颗粒的有效鉴别。
- 功能特色：
- 形貌观察：金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二维和三维材料的表面、断面形貌观察；纳米材料显微结构、尺寸分析；材料微结构及相分布观察。组成分析：各种粉末和固体块的Be-U元素组成和元素分布观察；线分析、面分析功能。扫描速度快，面分布仅1min即可分析。
- 样品要求：
- 应用领域：
- 材料科学、矿产化工、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术。
- 收费标准：
- 数据光盘：5元/张；导电胶带：免费 面议;面议;面议;面议;面议
