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激光开封机laser decap ADVANCED PST-2000 北软检测失效分析实验室

技术参数：
芯片开封decap
功能特色：
1.P-N接面漏电；P-N接面崩溃 2.饱和区晶体管的热电子 3.氧化层漏电流产生的光子激发 4.Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、 Hot Carriers Effect、ESD等问题
样品要求：
样品情况，分析要求
应用领域：
收费标准：
价格   面议

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