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三维形貌仪 UP Rtec-Instruments, Inc. 已认证

功能特色：...

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无损检测x光检测x-ray YXLON Cougar EVO 北软检测芯片测试实验室已认证

功能特色：有平面，立体两种模式可选...

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金相显微镜OM显微镜分析显微镜拍照 1000倍北软检测芯片测试实验室已认证

功能特色：1000倍...

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扫描电子显微镜SEM电镜 fei 北软检测芯片测试实验室已认证

功能特色：1.材料表面形貌分析，微区形貌观察 2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分...

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X射线荧光光谱仪 Axios max 荷兰帕纳科已认证

功能特色：用于粉末，块状，粉末压片，熔片，金属非金属样品，空气滤膜等样品元素成分的定性定量...

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场发射扫描电镜及能谱仪 JSM-7001F及X-Max 日本电子株式会社和牛津仪器纳米分析有限公司已认证

功能特色：形貌观察：金属、陶瓷、半导体、矿物和纳米级一维、二维和三维材料的表面、断面形貌观...

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光学表面分析仪-CS10-KLA-tencor-美国 CS10-KLA-tencor 美国已认证

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平整度测试仪 FlatMaster200-Corning 美国已认证

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纳米级X光断层扫描重构设备(Nano-CT) Xradia NanoXCT-200 已认证

功能特色：配置及技术指标:X-射线的能级为8.03keV,大视野模式下，样品的测量范围为≤...

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扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope） Dimension Icon 已认证

功能特色：基本特性: 仪器噪声：闭环XY噪声 ≤ 0.15 nm，开环XY噪声 ≤ ...

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三维形貌仪 UP Rtec-Instruments, Inc. 已认证

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无损检测x光检测x-ray YXLON Cougar EVO 北软检测芯片测试实验室 已认证

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X射线荧光光谱仪 Axios max 荷兰帕纳科 已认证

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场发射扫描电镜及能谱仪 JSM-7001F及X-Max 日本电子株式会社和牛津仪器纳米分析有限公司 已认证

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光学表面分析仪-CS10-KLA-tencor-美国 CS10-KLA-tencor 美国 已认证

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平整度测试仪 FlatMaster200-Corning 美国 已认证

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场发射扫描电镜及能谱仪 JSM-7001F及X-Max 日本电子株式会社和牛津仪器纳米分析有限公司已认证

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光学表面分析仪-CS10-KLA-tencor-美国 CS10-KLA-tencor 美国已认证

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平整度测试仪 FlatMaster200-Corning 美国已认证

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