动态机械分析仪DMA TA Q800 美国TA 已认证

功能特色：...

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膜厚测量椭偏仪 Smart SE 法国HORIBA Jobin Yvon 已认证

功能特色：测试各种透明薄膜膜厚...

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光谱椭偏仪 GES5E 法国Semilab 已认证

功能特色：测量各类（包括电介质、有机物、半导体、金属等）薄膜（包括透明基底上的透明薄膜）的...

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X射线单晶回摆曲线定向仪 DX-9BG 已认证

功能特色：我司单晶回摆曲线定向仪器包括测试台、高压发生器和计算机分析系统。该仪器配有射线窗...

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X射线衍射仪 Figure 1 X’Pert PRO 已认证

功能特色：...

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平坦度测试仪 Figure 1 Tropel FM100 已认证

功能特色：...

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表面缺陷检测仪 Candela CS10V 已认证

功能特色：...

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光谱型椭偏仪（Spectroscopic Ellipsometer） UVISEL2 已认证

功能特色：配置及技术指标 ：  光谱范围覆盖190– 2100 nm  光源: 高稳定...

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纳米压痕仪（Nano-Indenter） TI-900 已认证

功能特色：配置及技术指标：纵向最大加载力10mN, 力值分辨率为1nN;最大位移5um,位...

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安东帕纳米压痕仪和微纳米压痕划痕仪(双测头) UNHT和MHT&MST 已认证

功能特色：配置及技术指标：UNHT最大加载力100mN, 力值分辨率为3nN;最大位移50...

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