未收藏
台阶仪
Bruker Dektak XT
台阶仪 Bruker Dektak XT 美国
技术参数:
功能特色:
样品要求:
应用领域:
半导体微纳加工
收费标准:
价格 面议
为您推荐
热台
紫外可见近红外分光光度计
Cary 5000
稳态瞬态光谱分析仪
FLS980
钨灯丝扫描电子显微镜
JSM-6510
免费咨询
我要使用