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半导体参数测试系统 Keithley 4200-SCS/F

技术参数：
配置3 个中功率源测量单元（SMU）， 电流最大100mA，电压最大200V，增 配远端前置放大器，电流测量分辨率 可达0.1fA。
功能特色：
电学特性测量，适用于各种纳米材料器件的电导和电容特性表征。
样品要求：
应用领域：
电学特性测量，适用于各种纳米材料器件的电导和电容特性表征。
收费标准：
价格   面议

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