未收藏

透射电镜：球差透射电镜(米格) ARM 200 日立

技术参数：
场发射透射电子显微镜
功能特色：
样品要求：
铜环、微栅、样品厚度50~100 nm最佳，纳米材料、粉体等,包含原子晶格像、EDX、STEM等
应用领域：
收费标准：
价格   面议

为您推荐

免费咨询
我要使用